近场测试探头

微波标准波导探头可以用在多种电磁场测试工作中,也可以是近场扫描系统中的核心部件。西宝公司可根据客户需要设计最佳的波导探头。下表中的探头尺寸是实现相应电指标时最短的设计。
测试报告

近场测试探头

 

型号

Model

 

频率范围

Freq.(GHz)

 

增益

Gain(dB)

 

VSWR

 

外形尺寸

Size φD×H (mm)

 

连接标准

Connector

XB-OW1500-N

0.49-0.75

7

≤ 2.2

φ530×700

N-50K

XB-OW1150-N

0.64-0.98

7

≤ 2.2

φ530×650

N-50K

XB-OW975-N

0.76-1.15

7

≤ 2.2

φ530×600

N-50K

XB-OW770-N

0.96-1.46

7

≤ 2.2

φ530×550

N-50K

XB-OW550-N

1.13-1.73

7

≤ 2.2

φ530×460

N-50K

XB-OW510-N

1.45-2.20

7

≤ 2.2

φ530×400

N-50K

XB-OW430-N

1.72-2.61

7

≤ 2.2

φ530×330

N-50K

XB-OW340-N

2.17-3.30

7

≤ 2.2

φ530×280

N-50K

XB-OW284-N

2.60-3.95

7

≤ 2.2

φ140×240

N-50K

XB-OW229-N

3.22-4.90

7

≤ 2.2

φ140×210

N-50K

XB-OW187-N

3.94-4.99

7

≤ 2.2

φ140×180

N-50K

XB-OW159-N

4.64-7.05

7

≤ 2.2

φ140×150

N-50K

XB-OW137-N

5.38-8.17

7

≤ 2.2

φ140×130

N-50K

XB-OW112-S

6.57-9.99

7

≤ 2.2

φ140×110

SMA-50K

XB-OW90-S

8.2-12.5

7

≤ 2.2

φ140×100

SMA-50K

XB-OW75-S

9.84-15.0

7

≤ 2.2

φ140×90

SMA-50K

XB-OW62-S

11.9-18.0

7

≤ 2.2

φ80×80

SMA-50K

XB-OW51-S

14.5-22.0

7

≤ 2.2

φ80×80

SMA-50K

XB-OW42-K

18.0-26.5

7

≤ 2.2

φ80×70

K-50K

XB-OW34-K

21.7-33.0

7

≤ 2.2

φ80×70

K-50K

XB-OW28-K

26.5-40.0

7

≤ 2.2

φ80×60

K-50K

XB-OW22-OS

33.0-50.0

7

≤ 2.2

φ80×60

OS2.4-50K

XB-OW19-V

39.2-59.6

7

≤ 2.2

φ80×50

V-50K

XB-OW15-V

49.8-75.8

7

≤ 2.2

φ80×50

V-50K